微波谐振腔高品质因数的测量

微波谐振腔高品质因数的测量 MEASUREMENT OF HIGH Q-FACTOR OF MICROWAVE CAVITIES 谭立国 Tan Liguo 1 first-author 华中工学院 华中工学院 < 正 > 当被测微波谐振腔的品质因数Q值大于一干时,一般要求备有贵重精密的仪器设备。本文提出了使用一般仪表测量高Q值的措施,并给出了实验结果。通常测量Q值的方法多建立在谐振腔半功率点带宽测量的基础上。这种方法要求按下式计算有载品质因数,Q L 即Q L =（f o ）╱（△f）。当Q L 值很大时,例如在x波段的Q L =4000,谐振频率f o =10吉赫,则△f=2.5兆赫。为了保证Q L 有5%的测量精度,就要求频率测量的地对精度优于62.5千赫,相对精度优于6.25×10 -6 。一般仪表很难满足这些要求。 < 正 > 当被测微波谐振腔的品质因数Q值大于一干时,一般要求备有贵重精密的仪器设备。本文提出了使用一般仪表测量高Q值的措施,并给出了实验结果。通常测量Q值的方法多建立在谐振腔半功率点带宽测量的基础上。这种方法要求按下式计算有载品质因数,Q L 即Q L =（f o ）╱（△f）。当Q L 值很大时,例如在x波段的Q L =4000,谐振频率f o =10吉赫,则△f=2.5兆赫。为了保证Q L 有5%的测量精度,就要求频率测量的地对精度优于62.5千赫,相对精度优于6.25×10 -6 。一般仪表很难满足这些要求。 1985-02-01 2021-04-01 2