您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
硅一体化薄膜微电极电化学传感器件的稳定性研究
更新时间:2021-04-02
    • 硅一体化薄膜微电极电化学传感器件的稳定性研究

    • A STUDY ON STABILITY OF SILICON INTEGRATED THIN FILM MICROELECTRODE BASED ELECTROCHEMICAL SENSOR DEVICES

    • 武汉大学学报(理学版)   1997年第2期
    • 中图分类号: O646.54
    • 纸质出版日期:1997-02-01

    移动端阅览

  • [1]周仲柏,柳文军,吴青海,刘炯权.硅一体化薄膜微电极电化学传感器件的稳定性研究[J].武汉大学学报(自然科学版),1997(02):28-33. DOI:

    Zhou Zhongbai, Liu Wenjun. A STUDY ON STABILITY OF SILICON INTEGRATED THIN FILM MICROELECTRODE BASED ELECTROCHEMICAL SENSOR DEVICES[J]. 1997,(2). DOI:

  •  
  •  

0

浏览量

84

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

暂无数据

相关作者

暂无数据

相关机构

暂无数据
批量引用
0